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【求助】荧光分析氧化铝

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 求助荧光分析氧化铝的分析方法。
    我用融片法制样分析,用固定道的荧光仪测量时,稀比1:2的反而比1:4的强度还低,不知为何,请行家指教。
    分析元素为二氧化硅(0.005左右)、氧化铁(0.005左右)氧化钠(0.35左右)。各元素强度都很低,烦恼中,请指教。
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  • nameylf

    第1楼2007/11/01

    嗯,确实有点奇怪!有没有具体的数据呀,拿出来大家一起分析一下?

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  • alexright

    第2楼2007/11/01

    有两点需要注意:
    1、熔剂的影响。
    2、是否这只是特殊的现象?

    pglqwqz 发表:求助荧光分析氧化铝的分析方法。
    我用融片法制样分析,用固定道的荧光仪测量时,稀比1:2的反而比1:4的强度还低,不知为何,请行家指教。
    分析元素为二氧化硅(0.005左右)、氧化铁(0.005左右)氧化钠(0.35左右)。各元素强度都很低,烦恼中,请指教。

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  • pglqwqz

    第3楼2007/11/02

    1、我做了3次均是如此。
    2、1:2的强度:0.042 2.401 0.195
    1:4的强度:0.064 2.632 0.256

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  • pglqwqz

    第4楼2007/11/02

    如果熔剂的杂质较高的话可以理解,可我用进口熔剂与国产熔剂均如此不解。

    alexright 发表:有两点需要注意:
    1、熔剂的影响。
    2、是否这只是特殊的现象?

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  • 相逢何必相识

    第5楼2007/11/03

    不知道你用的是什么溶剂,我们这里用的是国产的稀释比1:10测氧化铝,可能是你的溶剂选择有问题,或者是你在熔样过程有问题

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  • nameylf

    第6楼2007/11/03

    有些不解!可以提供数据的原始记录吗?三次测量的强度稳定性如何?

    pglqwqz 发表:1、我做了3次均是如此。
    2、1:2的强度:0.042 2.401 0.195
    1:4的强度:0.064 2.632 0.256

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  • alexright

    第7楼2007/11/04

    建议做空白。如此低含量的成分,测起来有些不放心。
    另外,进行数据分析。


    求助荧光分析氧化铝的分析方法。
    我用融片法制样分析,用固定道的荧光仪测量时,稀比1:2的反而比1:4的强度还低,不知为何,请行家指教。
    分析元素为二氧化硅(0.005左右)、氧化铁(0.005左右)氧化钠(0.35左右)。各元素强度都很低,烦恼中,请指教。
    如果熔剂的杂质较高的话可以理解,可我用进口熔剂与国产熔剂均如此不解。

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  • kmfreezhong

    第8楼2007/11/04

    朋友是不是使用的岛津的仪器?能否考虑不用固定道而用扫描?

    pglqwqz 发表:求助荧光分析氧化铝的分析方法。
    我用融片法制样分析,用固定道的荧光仪测量时,稀比1:2的反而比1:4的强度还低,不知为何,请行家指教。
    分析元素为二氧化硅(0.005左右)、氧化铁(0.005左右)氧化钠(0.35左右)。各元素强度都很低,烦恼中,请指教。

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  • pglqwqz

    第9楼2007/11/05

    多谢。请问1:10测含量低吗?电压、电流分别多少?熔剂应无问题,我用此熔剂分析铝土矿OK。

    32022 发表:不知道你用的是什么溶剂,我们这里用的是国产的稀释比1:10测氧化铝,可能是你的溶剂选择有问题,或者是你在熔样过程有问题

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  • pglqwqz

    第10楼2007/11/05

    确实是,难到你也碰到过现象。本单位无扫描的仪器。能帮解释一下吗?
    可发邮件至qwz521@21cn.com.不胜感谢!

    kmfreezhong 发表:朋友是不是使用的岛津的仪器?能否考虑不用固定道而用扫描?

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