【求助】各位高手麻烦帮忙看一下hrtem的晶格条纹

我觉得比较正常。一方面量取本来就有一定的误差，另外一方面电镜状态也会对d值有影响。你可以结合d值与晶面夹角进行进一步的判断。
同时这个电镜在作其他样品时，可以参照你这个Si的趋势，进行一定的估计。
如果确定是Si，发文章时需要对你这个照片的标尺重新校准一下。

兄台，十分感谢你的回复，你说的校正怎么操作啊？
另外我还有一张图片，上面有两种晶格条纹，一种是0.31nm，另外一种是0.329nm，同张图片两种规格，怎么解释啊？
万分感谢

你的Si是什么结构？对于六方结构的Si（80-0005），d{100}=3.2909，d{002}=3.1345埃，这两个面间距值来自两个不同晶面。

我也曾经查过这个六方结构，但是xrd显示只有一种立方结构的硅，没有六方的峰啊

XRD是整个样品X射线衍射的结果，如果六方结构的Si含量比较低，XRD谱上就不会出现它的峰。

角度判断一下
如果是六方的这2个指数
角度应该是90°吧
而如果是70.5°估计还是立方的Si