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【求助】新手使用AFM几个问题请教大家

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 新手使用AFM进行合金表面形貌表征,几个问题请教大家,不知有无高人出来解答一下,谢谢!

    1. 我要把样品(一根金属丝)嵌入一块导电基板中,两者保持相平。这根金属丝端面要打磨至光亮,为方便测量,这块导电基板最好是黑色,这样便于通过光学显微镜较快地找到金属丝端面的位置。

    2. 由于是通过环氧树脂把金属丝和导电基板连在一起的,因此还要求易于取出样品。

    3. 由于要打磨,导电基板要耐磨。

    多谢大伙提点建议!!!

    4. 不锈钢不行,我试过了。因为要把不锈钢其余部分涂覆起来,只剩下金属丝露在外面。这样一来不易操作,容易污染金属表面,二来即使样品制备成功,由于涂层不是水平的,影响AFM的探针工作,导致测量无法进行。
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  • hitttr

    第1楼2008/08/13

    金属丝的直径有多大?如果大于200um,我认为不一定要做镶嵌样。直接测就可以了。
    为什么要将样品先镶嵌到导电基板中?然后再用环氧树脂再次封装?
    如果一定要做镶嵌样的话,直接用环氧树脂将金属丝封起来就可以了呀

    qftian 发表:新手使用AFM进行合金表面形貌表征,几个问题请教大家,不知有无高人出来解答一下,谢谢!

    1. 我要把样品(一根金属丝)嵌入一块导电基板中,两者保持相平。这根金属丝端面要打磨至光亮,为方便测量,这块导电基板最好是黑色,这样便于通过光学显微镜较快地找到金属丝端面的位置。

    2. 由于是通过环氧树脂把金属丝和导电基板连在一起的,因此还要求易于取出样品。

    3. 由于要打磨,导电基板要耐磨。

    多谢大伙提点建议!!!

    4. 不锈钢不行,我试过了。因为要把不锈钢其余部分涂覆起来,只剩下金属丝露在外面。这样一来不易操作,容易污染金属表面,二来即使样品制备成功,由于涂层不是水平的,影响AFM的探针工作,导致测量无法进行。

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  • qftian

    第2楼2008/08/13

    我的实验步骤是:先将金属丝端面打磨至光亮,接着用AFM扫描端面,后对端面进行电化学实验,再用AFM扫描。比较电化学实验前后端面image的变化。我的金属丝直径是380um。如何实现上述实验?恳请大家指点!!!

    目前使用的是附件中的电化学池,这个本来是用来做原位的,目前还无法实现原位测量。


    [quote]原文由 hitttr 发表:金属丝的直径有多大?如果大于200um,我认为不一定要做镶嵌样。直接测就可以了。
    为什么要将样品先镶嵌到导电基板中?然后再用环氧树脂再次封装?
    如果一定要做镶嵌样的话,直接用环氧树脂将金属丝封起来就可以了呀
    electrochemical cell

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  • qftian

    第4楼2008/08/14

    [quote]原文由 hitttr 发表:看看用下面的不走进行可以不?


    感谢回复!不过我还是不理解您图中圆柱体的是什么材料?另外把它放在电化学池中后如何实现池外的导线和金属丝相连呢?原来我用plate做的时候很方便,按照仪器公司提供的办法,把一个T型金属导线通过电化学池上方的弹簧压在板上,这样可以实现很好的electrical connection

    不知道按照您说的方法做,如何实现镶嵌的金属丝导电?谢谢!

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  • qftian

    第6楼2008/08/14

    [quote]原文由 hitttr 发表:看看用下面的不走进行可以不?


    这样做容易造成样品表面不是水平,对AFM扫描有影响。AB胶固化之后可以导电么?如果可以的话,能否把导线固定在AB胶上,从而实现导电?

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  • 钮因华信

    第7楼2008/08/14

    谢谢,正学着咯!!有点帮助!!谢谢共享!!

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  • qftian

    第9楼2008/08/16

    多谢楼上的朋友给出的建议!!!

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