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AFM或者SPM是否可能通过外置光源对材料同时进行光照？

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 反方：行不通，原子力显微镜系统是通过光路来工作的，照射样品会干扰形貌信号。
    正方：1. AFM一般是用的是红外单色激光，PSD会有很好的单色响应，并且会有相应的滤色附件。激发样品所用的光源不一定在此范围；
    2. AFM的激光光路很复杂的聚焦光路，样品上的漫反射光很难进入光路；
    3 AFM的电子控制系统有滤波和降低噪音电路及相应软件。
    因此不大可能会对形貌测量形成很大干扰。
    反方：外来光对样品的影响虽然不会进入光路系统，但对探针背部反射光是有干扰的。所以会降低表面形貌的分辨率。AFM工作原理：激光是通过探针背面反射进入光电探测管，样品起伏会导致反射光斑在光电探测管上位置变化，系统再根据位置变化给压电陶瓷管施加相应的电压从而产生伸缩，以此来保持光斑在光电探测管的位置。
    （来自互联网）
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    +关注 私聊

  • wulabobo

    第1楼2015/04/30

    大家有什么看法呢？

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  • zikgreen

    第2楼2015/05/02

    所有能和拉曼联用的AFM都是在用两束激光。已经是商品化很成熟的技术了。。

    wulabobo(v2689957) 发表:大家有什么看法呢？

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  • 清风侠

    第3楼2015/05/04

    同时光照什么意思？正在扫描的时候，用另外激光照射样品？ tip 扫描呢，AFM激光从上进入，另外激光从下面进入？

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  • 清风侠

    第4楼2015/05/04

    楼主提出此命题，主要目的是想做什么工作？

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  • wulabobo

    第6楼2015/05/14

    楼主觉得支持正方的看法，可见光照射不会有影响。

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  • 纳米世界

    第7楼2015/06/17

    应该可以同时光照样品，也可以进行光照前和光照后进行原位测试。

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  • 清风侠

    第9楼2015/07/06

    激发光源如果波长不一样，应该是可以同时进行工作的，而且现在已经有很多商业化的产品了！

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