【求助】弱弱地问一下X射线光电子的问题？？？

X射线荧光主要涉及的不是光电子 ，而是由外层电子填补内层空穴时发射出的能量。

应助达人

这个理论属于XPS光电子能谱的方面，
X光照上去，电子跑出来，就是爱因斯坦所研究的光电效应，不过这里入射光是X光而已
至于出射的电子的能量，就等于入射光子能量－电子的结合能－逃逸时和晶格碰撞损失的能量。具体的讲，从0.x eV到几千eV的都有
不过XPS大多关注弹性散射的电子，那么这时候出射的电子的能量，就等于入射光子能量－电子的结合能。
真空中可以检测这些电子，不过需要的真空度比较高，XPS机器几乎都配备了全套的真空系统，从机械泵、分子泵、到离子泵都有的，大多数真空度都维持在10 E－6帕或者更高

至于荧光，大多是不抽真空的，或者是用机械泵抽一抽，真空度很少回小于1Pa。

这个主要是两部分的东西，一部分是：所加电压的大小；第二部分是：靶材材料的原子序数。也就是说是一个连续谱和一个特征谱。对于荧光仪器来讲，二次辐射的能量主要是最内层电子跃迁，产生一个空穴，次外层电子填充这个空轨道，这样就有能量释放。释放的能量有荧光、光电子、俄歇电子。

如果在空气里测的话，低能电子就被空气所散射，探测器就探测的比较少了。

应助达人

电子探针X射线光电子的检测关键部件（波谱仪）是分光晶体，电子束打在样品上激发的X射线通过分光晶体进行（元素特征X射线）分光，再通过正比计数管（即X射线传感器）检测后，多级放大，脉高分析，累计计数，数据处理，从而获得元素分析结果。
二次电子是通过电子束打在样品上产生的二次反射电子传到二次电子传感器上，通过一系列电路处理而获得二次电子像。
背散射电子是在电子束打在样品背面的背散射电子传感器上，再通过一系列电路处理而获得背散射电子像（成份和形貌像）。
另还有
X射线探针电子像（靠探针电流传感器及相关电路获得）
吸收电子像（靠吸收电子图像传感器和相关电路获得）