ICP光谱
飘尘
第1楼2008/12/02
我绝度能测,但是不怎么理想,首先是高含量样品直接测试稀释倍数太大,可能需要减杂法,这样可信度就会下降。其次样品的预处理比较麻烦,消解比较复杂,第三需要仪器配备抗氢氟酸雾化室等,第四ICP只能测定出Si含量不能测出SiO2。以上说的不好、仅供参考。
longxiao6
第2楼2008/12/02
我计算了一下,用万分之一天平称取0.04g样品,消解定容到100mL,硅的浓度为186mg/L,这样只需要稀释100倍,就可以利用曲线定量硅的含量了。这样稀释算不算太大?做出来的结果可行不?
唐伯猫点蚊香
第3楼2008/12/02
低于95%的二氧化硅,采用动物胶重量法,高于95%的用铂坩埚氢氟酸减量法。这个建议是正确的.ICP直接测高含量的二氧化硅误差较大.
maerbing
第4楼2008/12/02
用氢氟酸跑硅,然后测杂质,可以非常精确
lilongfei14
第5楼2008/12/02
99.9%不能直接用ICP测了,只能用氢氟酸把硅赶掉,然后测里面的杂质含量,再用1-就得硅的百分含量了。
liu999999
第6楼2008/12/02
应该用容量法或者质量法测定,ICP法不可行的。
第7楼2008/12/02
重量法?你可以精确到99.9%以上吗?还是应该跑硅后,用ICP或ICP-MS,比较好
chemistryren
第9楼2008/12/02
你这方法不可行...杂质元素那么多难道一个个都去测一遍??
yming0123
第10楼2008/12/02
用ICP测这么高浓度的Si肯定不可行,误差会放大。
第11楼2008/12/03
用氢氟酸消解后,里面的元素连同硅一起都成溶液了吗?怎么赶掉硅了?
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