hanfeng1979
第6楼2008/12/22
自吸效应校正背景是基于高电流脉冲供电时,空心阴极灯发射线的自吸效应。当以低电流脉冲供电时,空心阴极灯发射锐线光谱,测定的是原子吸收和背景吸收的总吸光度。接着以高电流脉冲供电,空心阴极灯发射线变宽,当空心阴极灯内聚积的原子浓度足够高时,发射线产生自吸,在极端情况下出现谱线"自蚀",这时测得的就是背景吸收和小部分原子的吸光度。上述两种脉冲条件下测得的吸光度之差,即为待测元素的衰减吸光度值。这种校正背景的方法特别适用于高电流脉冲下共振线自吸严重的低温元素。
希望你的仪器能有这个功能(一般应该都有.)