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【讨论】纯钨中微量Si,Mg,Ti含量分析.

ICP光谱

  • 如题,用ICP-OES在分析,Si,Mg,Ti的含量很低,10到50PPM,因为W对上述几个元素的干扰很多,找了好多条线,结果不是很理想.据有关文摘介绍,说是用离子交换法把W元素分离后再测试.具体的操作方法,用的是什么树脂?方法精密度如何,回收率多少等,具体的细节不是很清楚,大家有没有做过这方面的实验,一起来讨论讨论吧.
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  • lilongfei14

    第1楼2009/02/25

    改用标准加入法,应该是可以的

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  • chemistryren

    第2楼2009/02/26

    如果是PE的产品可以试一下MSF扣除背景/

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  • 飘尘

    第3楼2009/02/26

    请问能不能说一下MSF扣除背景的这种方法具体细节应该怎么做!详细一点最好有资料传上来点

    chemistryren 发表:如果是PE的产品可以试一下MSF扣除背景/

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  • 谈谈

    第4楼2009/02/27

    如果是大批量的检测,1000个样品的话,做标准加入法是不是操作太麻烦啊,要不要一个样品做一系列标准啊。

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  • hunk

    第5楼2009/02/27

    没有用的---最多也就是能缓和一下,不能作为准确值--用原子吸收试试吧--前处理用离子交换估计也够呛--纯钨啊--结果重现线可能不大好

    wht0518 发表:请问能不能说一下MSF扣除背景的这种方法具体细节应该怎么做!详细一点最好有资料传上来点

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  • 谈谈

    第6楼2009/03/02

    瓦里安的工程师告诉我说,如果ICP存在光谱干扰,那么同样的道理,原子吸收也会有,只不过是因为原子吸收无法直观的体现出来,所以那种结果也只是自我安慰罢了,也不知道怎样才好。

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