【求助】背散射模式观察晶界衬度问题

像的衬度就是像的各部分(即各像元)强度相对于其平均强度的变化。

不好意思，还不能上传图片

没有人回吗？

對比度及亮度沒怎么調好吧。圖片看的有點刺眼

是否是样品没有放平。由于背散射电子在样品室中不象二次电子是直线运动的，所以要磨平放平整。可以试一下。

bigbelly 发表:我用背散射模式拍的照片如图，但是不知道衬度产生的原理是什么，哪位能帮忙解释一下，谢谢。还有，为什么图的右侧总比左侧亮？
（试样为工业纯铝电解抛光）
SEM照片

我的照相技术实在有限，刺眼我也不知道怎么回事。
但是这是扫描电镜，又不是透射，怎么不同的晶粒有不一样的衬度呢？

背散射像也能反应出一定的取向信息吧 亮度不一样是不是就是取向的差别呢？

楼上的大哥知道是什么原理吗？

亮度不一样是由取向的差别造成的。背散射电子主要有两种衬度：原子序数衬度以及取向衬度，而对形貌不太敏感。前者主要反映原子序数的差别，后者主要显示取向的差别。你这张照片既然是工业纯铝，那么基体应该是比较纯的单一相，原子序数的影响较小，因此主要反映的就是各晶粒取向的差别。至于右边部过量，可能是由于倍数太小，而背散射探头位置不正造成的。