【讨论】貌似论坛里做AFM的人很多，可是做STM的却很少。

可能是STM只能测量导体和半导体的局限性造成了这样的一种情形吧。
如果只是测量样品形貌的话，还是用AFM居多。

可能是STM只能测量导体和半导体的局限性造成了这样的一种情形吧。
如果只是测量样品形貌的话，还是用AFM居多。

STM 只能测试导电样品，及要求被测样品必须能导电；
AFM 对样品没有特殊要求，实际上是STM的进化产品，可以取代STM

3#的回答不完全，AFM不能取代STM，看你测的样品需要什么样分辨率的量级了，一般做薄膜的，AFM的量级就足够了。
而且一般手段做薄膜很难做成标准样品那样，用STM扫描，很容易探针就坏掉了。

谢谢楼上的补充，谢谢！STM虽然从分辨率精度上要高于AFM，但是实用性和功能可扩展来讲还是AFM更好，所以现在的扫描探针显微技术都是基于AFM的，拙见供参考。

我到觉得高水平的文章都是STM做出来的。况且STM还能扫STS，这个就十分强大。
也许是国内做STM的太少了吧，也就那么几个组。。。。。

STM测量的是样品表面的电子态信息，从这点上看，AFM不可能取代STM

两者各有优点吧，也各有不足，主要看样品的性质以及你想得到什么方面的结果了。