gloss
第3楼2009/09/29
真的非常感谢,前一段时间我一直用传统的dimple+ion milling的方法尝试做薄膜截面,做了有好几个月了,一直做得不好,薄膜太易碎,不然就是在电镜下观察不到薄区。眼看着快要毕业了,所有的问题都解决了就剩这个TEM。回头跟boss商量一下看能否买一个,真希望能赶快把这个问题解决。
pocohe
第4楼2009/09/30
你的是什么substrate, 如果dimple+ ion milling 做不好, 我想tripod 你一时半会也做不好, 磨截面样品要的就是耐心 be patient. 你看看 C.L. Jia 的文章就知道conventional method 可行且管用. 告诉我你的是什么材料 (film/substrate), 我可以给一些建议. 我还用酒精磨超导样品, substrate 也很碎.
gloss
第10楼2009/10/01
不好意思我开头没讲清楚。先是在硅片上镀膜,那时dimple很容易碎,只做出一两个。后来由于实验中其它的原因改成在不锈钢上镀膜了,dimple虽然不容易碎了,ion milling却很成问题了,感觉不锈钢总是和薄膜一起被打掉。由于做的是截面,薄膜其实就只有一根丝,ion milling时很难判断是不是好了,常常是从金相显微镜中看减的差不多了,可是到TEM里面一看根本没有薄区。根本就分不出不锈钢和薄膜。
听别人说现在薄膜样品的TEM很多都是用tripod来做,这样ion milling打的时间短,也许会好点,所以我才想试试这个方法。