请问如何用x射线双晶衍射测量半导体异质结的晶格失配？

请参阅以下三篇文献



2003年第一期《核技术》“分子束外延生长ZnO薄膜及性能研究”



2003年第二期《固体电子学研究与进展》“Co/a-GeSi/Ti/Si多层薄膜固相反应外延生长CoSi2薄膜”



2004年第三期《发光学报》“ZnO薄膜的分子束外延生长及性能”

请您利用网上的信息资源进行文献检索，可以利用：

http://www.analysis.org.cn/ 中国分析网

http://www.google.com 信息检索网

http://www.wanfangdata.com.cn/万方数据库

http://www.nstl.gov.cn/nstl/user/ywjsdg.jsp 国家科技文献图书中心

http://www.scirus.com/?PTS Scirus 科学信息检索网