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【求助】请教如何分析“高分辨透射电镜下拍摄的晶格像”

sxf602

2010/04/26

透射电镜（TEM）

我想向您请教一下如何分析“高分辨透射电镜下拍摄的晶格像”，或者向帮我推荐一下参考书，

这张晶格像，让外行的我看不出区别，但是记得当时透射老师说这张照片“在一个带轴上匹配，过渡区窄，衍射条纹存在倍周期的的关系等等”优点，但是我还是不会分析，这张照片左边是Ti2O3，右边是TiN，不知道“过渡区”在哪儿，晶带轴是哪一个，衍射条文如何测量。我的目的是找出Ti2O3和TiN在晶面上的匹配关系，我通过错配度理论计算，在（001）晶面平行时，匹配比较好，现在我就是想验证一下，我的理论计算结果，它们是不是在（001）匹配，不知道这张照片能不能说明问题。

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左边有晶格条纹，说明已经到了一个正带轴，带轴指数你要结合该位置拍的衍射斑来定，如果你当时没拍，就没办法知道了。右半边取向不符合高分辨成像条件，说明左右取向不同，在该晶面上看不出取向关系，有条纹和没有条纹交接的地方就是过渡区！恕我眼拙，真没看出来取向关系。至于晶格条纹的测量，如果你没有其他软件帮助的话，可以用原始法，测条纹间距，跟底下的标尺对照，换算一下就知道大概值了

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