【求助】位错密度估算

一般可用截线法测单位面积的位错线数目或者测单位体积内的位错线长度，后者需要测定试样的厚度，同时要考虑衍衬造成的位错线不可见而估测的误差。

谢谢回复，我是不是可这么理解：
1-截线法就是在图中沿某方向画直线，然后数与直线相交的位错数目，为了具有统计性，需要多画几条然后作平均。
2-测单位体积内的位错线长度，这是位错密度比较常规的定义，类似的定义还有数单位面积上位错的露头数，这个比较适合plan view的模式（特别是对外延膜里面的threading dislocation）。
3-关于位错线消光的问题的确是存在的，因此我觉得往往会造成位错密度估算偏小，这个我觉得可以在同一个区域多用几个g成像，看看能否估计的更准确。

方法1应该是指单位面积上的位错数量吧，这才能保证与方法2具有相同的量纲

方法一我还是估算了样品厚度
就是数与直线相交的位错数目
然后除以 （直线的长度*样品厚度）
这样量纲一致

这个我觉得类似于单位面积的露头数

位错分布不均，位错消光，样品表面镜像力你都考虑了吗？

想当初我也是学金属材料出身的，
可是现在看到位错就一头雾水啊，都不值所云了，呵呵

样品表面镜像力是什么？

额，1年的帖子了，重新顶起。