扫描电镜(SEM/EDS)
hytpco
第1楼2010/06/01
什么材料?怎样处理的?
fly-fall
第2楼2010/06/01
多层膜,没有处理,表面粗糙度很小,颗粒是外来的
fengyonghe
第3楼2010/06/01
我不知道你的困难在那里,有了那个外来物的能谱,用无标样定量分析还有困难吗?除非是你觉得那颗外来物的是被击穿了所以有了很多基体元素成分,如果是的话,就得降低高压测试。
linzq
第4楼2010/06/02
[quote]原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:那颗外来物的是被击穿了所以有了很多基体元素成分很同意你的观点,我也觉得外来物体积不是太大且比较薄,组成物是没有特征X射线产额高的物质,估计为有机物加钙化物质没有一定的聚集是激发不出来物质信息的。即便降低电压可能也不行。我昨天做了一个二氧化硅外包裹钙、钒和铀(含量极少)的组合物当选择堆积不多的位置做能谱时只有硅线和氧线出来,后来选择堆积比较厚的位置,钙、钒出来了铀含量太少没有出来。所以说纳米材料做能谱最好做既有分散也有堆积的。
海之家
第5楼2010/06/02
厉害,我刚用,还的多请教
第6楼2010/06/02
我想知道外来物的成分...根据谱图没法直接判断...无标样定量分析是比较可行,但步骤还是比较复杂,而且对于含量低的元素也还是没法确定是背景的还是本身就有的。EDX真正的作用区域是数个微米,激发出的谱图肯定含有很多的背景信息...外来物有可能是在镀膜过程中产生的,也就是说可能含有背景的成分,所以进一步复杂了
第7楼2010/06/03
如下为定量分析的结果,除了C和O以外,您能据此判定还有些别的元素在吗?
第8楼2010/06/03
忘了贴图了
毒菇九剑
第9楼2010/06/10
电压用的是不是太高了,降低电压试试看成份有什么变化。可否用背散射像试试?如果颗粒和基体的成份有差异,BSE应该更好判断,可以根据BSE的反差帮助你判断。
wbslandy
第10楼2010/06/13
降低测试电压是个措施. 以镍为例, 20KV的电压采样深度约1微米, 10KV采样深度约400纳米, 5KV的约100纳米.措施之二: 用AES(俄歇能谱)测量,你样品如果少的话,可以把样品寄给我,我友情帮忙, 到时候买包烟犒劳我就可以了.AES只测表面几纳米的深度, 你如果想再测深点,我可以离子溅射外面一层,再测试.
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