XPS及其它能谱仪
第1楼2005/11/26
你把所有组份都做一遍窄扫描,用它们来定量。
第2楼2005/11/26
您的意思是所有的元素都用窄扫的?还是用宽扫的时候能扫到的元素,加上宽扫时候看不见.但是窄扫的时候能看见的.把他们组合在一起?对了,请教您一下quantification table(跟做样的时候哪个表有区别,它一般是打印的时候用)是如何出来的?我从机子上面找不到啊!
第3楼2005/11/27
宽扫和窄扫条件不同,定量计算时没有可比性。要不然全用窄扫,要不然用宽扫计算。
第4楼2005/11/27
那如果宽扫的时候扫不出来,只有在窄扫的时候扫出来.这个时候怎么确定他们的相对含量啊!
第5楼2005/11/27
还有您给我推荐的您的文章:您说AL和Mg靶交替使用,那这个时候条件都不一样了,那这个时候怎么测相对含量啊!
第6楼2005/11/28
那时没有测相对含量,只是测峰位了。
第7楼2005/11/28
那这个时候怎么测量相对含量啊?
第8楼2005/11/28
全用窄扫描,定量。
第9楼2005/11/28
是这样的,那等我机子好了,我试试,谢谢.
第10楼2005/11/28
是这样的,那等我机子好了,我试试,谢谢. 对了,您跟我的机子一样,那您那些俄歇数据的书是什么书?还有您平时看谁写的关于xps的书,我手边没有书,您能给推荐几本吗?
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