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【求助】关于采谱过程中,峰位发生改变的问题——XPS

  • yuansu123456
    2010/10/14
  • 私聊

XPS及其它能谱仪

  • 大家好,我在做xps的过程中发现,在细扫一个元素的时候,峰的位置发生变化,在低结合能方向会逐渐出现一个峰,由小变大,不知道是怎么回事,请大家帮忙解释些,谢谢了,,,,元素 为 Cd 3d5,如下图(402ev这个峰在数据库中查不到)

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  • feixiong5134

    第1楼2010/10/17

    想问一下“在低结合能方向会逐渐出现一个峰,由小变大,”这是啥意思?
    你的样品中还有啥元素?

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  • yuansu123456

    第2楼2010/10/18

    就是 右边那个 小峰 在第一次扫描的时候没有,第二次就有了,以后每次扫描都会明显长高,四次后 就成这个样子了~~~~~~
    查了数据库 Cd不可能跑到402左右去,怀疑是样品不稳定或者仪器电子中和出问题
    后来 重新制样测试,就没有这种情况了,只是 这种情况很怪,以前也有出现这种情况

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  • feixiong5134

    第3楼2010/10/19

    后面测试就没有小峰了?
    是不是仪器没有稳定的时候你就开始测试了?

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  • xulaoq

    第4楼2010/10/19

    样品带电过于严重时会导致能量偏低。

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  • yuansu123456

    第5楼2010/10/20

    应该不是仪器稳定的问题,前面测试的样品没有这个问题,这个样品是最后测试的,,,怀疑是制样没弄好,导致电荷累积造成的

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  • feixiong5134

    第6楼2010/10/22

    呵呵,可能是

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  • cnzxchen

    第7楼2011/03/04

    charging effect不是导致结合能往高移吗,你这是往低移呢

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