请教：样品形态与谱峰偏移

[quote]原文由 SeanWen 发表:前几天在做无铅锡块的分析，取了2个样，第一个样品比较疏松，表面不是狠光滑；另外一个样品表面很光滑。分析的时候第一个样品多处获取的Sn峰都发生偏移，而第二个样品却比较吻合。请各位发表一下看法，是不是样品的形态的影响？还是别的？谢谢～～

另外，对Sn的逃逸峰该如何处理？

能谱 是不能 准确检测 高形貌样本的， 原因是 X射线的遮挡和反射， 还有背散射电子的 多重散射等， 所以你的理解是正确的， 能谱的样本 有条件的话 最好机械抛光。
能谱不会有 SN的逃逸峰， 我见过 SI， AU 和 NI的。无法避免

但是您看，第一个样品的Count Rate并没有比第二个低，还有第一个样品整体上还是比较平的，怎么说呢，就是它比较多孔吧。