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【求助】AFM-tapping模式扫描Z centerposition很容易超限

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 主要是什么原因引起的?Veeco DI3000的机器,MD-NDT NSC15的针尖。样品是分布均匀的金属原子岛,粗糙度大约nm量级
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  • hitttr

    第1楼2010/12/11

    Z超限肯定是由于Z向起伏过大造成的。由于你的样品本身的粗糙度很少。唯一的可能是样品相对于探针的倾斜程度。下针的时候,尽量将头部调水平。这样能有效的避免Z超限。另外,大的扫描范围也很导致Z向超限,可以试着将扫描范围减小扫描,看看能不能清晰成像。

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  • substrate

    第2楼2010/12/11

    多谢指导。学习了,呵呵

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  • unht

    第3楼2011/01/10

    楼上的分析的好准确

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  • leihaozhi

    第4楼2011/01/18

    1、激光没有调对合适的位置。
    2、样品没品没有固定牢固。

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