红外光谱（IR）
fyrebecca 2011/07/21
说实在话,你的IR图谱没什么信息 如果是有Si, 其氧化物的信息根本不明显,如果是硅烷偶联剂 有机硅类的信号很强,这里根本看不出有什么信息来 还有你的XPS图上这么强的C,O信号,这是你的本体带来的吗,还是污染? XPS只检测表面几个纳米的信号,如果有污染,看到的不是真实信息,最好用XRF,EDS之类的去做元素分析 我不知道你是怎么做的IR,可能根本就没做好,所以谱图上没有任何可用的信息
附件：
fyrebecca
第1楼2011/07/16
能转变成直接可视的图片吗
chengjingbao
第2楼2011/07/16
不良品良品
第3楼2011/07/16
看上去良品上有氧化物不过信号太差，你的这个是否可以做XRF或者XRD吗
dahua1981
第4楼2011/07/17
可能是焊锡有问题
46347228lck
第5楼2011/07/18
是焊锡有问题，现附上整份分析报告，麻烦帮忙分析下，谢谢！
isomer
第6楼2011/07/18
第7楼2011/07/18
谢谢楼上，我试着传过图片，但是太小看不清，所以就传附件了。谢了！
第8楼2011/07/19
红外的指纹区好像有差异，请大家指点。因为不良品EDX分析出了硅，有人认为表面可能有塑胶中使用的硅烷偶联剂。
第9楼2011/07/21
不良品用剥金液剥不掉金，而良品可以。怀疑表面有层膜，请红外高手帮忙看看两者图谱的指纹区，谢谢！
第10楼2011/07/21
说实在话,你的IR图谱没什么信息如果是有Si, 其氧化物的信息根本不明显,如果是硅烷偶联剂有机硅类的信号很强,这里根本看不出有什么信息来还有你的XPS图上这么强的C,O信号,这是你的本体带来的吗,还是污染?XPS只检测表面几个纳米的信号,如果有污染,看到的不是真实信息,最好用XRF,EDS之类的去做元素分析我不知道你是怎么做的IR,可能根本就没做好,所以谱图上没有任何可用的信息
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