狭缝宽度对原子吸收有什么影响（石墨炉）？

简单说明下：
1、狭缝宽度大，在一定程度上，光通量也大，信号值也大，但是相应背景信号也大；狭缝宽度小，在一定程度上，光通量变小，信号变小，但是背景降低。
2、鉴于以上情况，狭缝宽度要折衷考虑、选择，最好做到背景信号相对小，而元素信号尽量的大些。
3、对于同一元素，你大可以选择不同的狭缝宽度，然后用某个浓度的标液上机测试，从而选择峰形好且信号值大的狭缝宽度。
4、光路通过石墨管之后会经过若干棱镜、平面镜等光学元件最终传到检测器当中，你可以打开机箱研究下光路走向，但不建议，因为只要碰过里边的光学元件，很有可能光路就得重调。
5、关于检测器如何接收和处理信号大概说明如下：
首先是元素灯发射元素信号（能量）到检测器，假设此时检测器接收到的信号为A，接着，在石墨管（或光焰法燃烧头）中的样品原子化过程中会吸收由灯发射出来的能量，这样一来，由元素灯中发射出来的能量就被其吸收而减弱，而减弱后的信号再次传到检测器中，假设此时检测器接收到的信号为B，这两次信号的差就是吸光值，即：吸光值=A-B
写得有点乱，希望我能表述清楚。。。。。

谢谢~~那想问一下，狭缝宽度是不是会比空心阴极灯发出的谱线宽度大很多的？？
还有一个就是：空心阴极灯会发出不同谱线，例如Pb 有217.0nm 有283nm的谱线，通过狭缝是不是这些谱线都通过了，之后进行分光，用283nm的谱线来观察？还是之前已经调节好了，选择了283nm观察进去的就只有这个谱线附近的光？

狭缝有入射狭缝和出射狭缝之分。我们调的是入射狭缝。入射狭缝的宽度对光栅的分辨率有影响的。

那想请问一下，入射狭缝是不是把很多波长的光都先通过去？出射狭缝才是观察的部分？？那其实这样的话，入射狭缝可以保证观察的波长的光进去的情况下应该越少越好吧？

5.吸光度值=log（A/B),，而不是相减。

1.光谱带宽（就是平时我们在仪器中设定的通带）=bdcosβ/nf 其中d为光栅常数（我们平时用的原子吸收的光栅的刻线密度是1200条/mm~1800条/mm）
β为衍射角， n为光谱级数（我们用到的光谱级数一般为1~2，这里说的不是中阶段光栅）
f为物镜的焦距，b为狭缝机械宽度，一般为狭缝机械宽度在mm级。而空心阴极灯发出的谱线宽度一般为0.005nm，这两者相差很远。
2.在1中我们知道空心阴极灯发出谱线宽度一般为0.005nm（但不只是发出一条谱线），而狭缝机械宽度在mm级，所以是这些光都通过以后进行的分光，要不然都分好后，还要光栅来干嘛，直接接检测器就行了。

入射狭缝是不是把很多波长的光都先通过去？出射狭缝才是观察的部分？是对的。并不是减少光谱通带使进去的光越少越好，光通量减少后，仪器的灵敏度是提高了，但信噪比会变大，负高压会变大，并不是越小越好的。

谢谢大家~~有点懂了~~如果狭缝少了，光通量就边少，进入检测器的杂光就不多，因而光栅分光就不需要那么多，然而到达检测器（CCD检测器是为了把光信号转化成电信号）会通过一些放大效应，不仅把谱线吸光放大了还把背景信号放大了，所有就有了，狭缝少，进入的杂光就少，灵敏度提高了，但放大效应把背景也提高了，从而导致了信噪比不好(狭缝肯定会通过所有的吸光带，这也是影响背景的原因)
如果狭缝大了，进入杂光少了，光栅分光也不需要那么灵敏了，分光次数越少，损失越少，所以就导致背景反而没那么大了，由于光信号多了，CCD检测器（这个构造我不大清楚，但可以用光电倍增管的原理来理解，其实负高压降低了，光在光电倍增管反射的次数少了，也不需要放大那么多了），这样虽然杂光多了，分光系统分开后，反而比狭缝少的背景还要少。
还有就是：其实如果原子吸收发展到一个比较高的层面的话，狭缝如果可以做到只允许一定谱线宽度的光通过（也就是空心阴极灯的光谱带款，比其大一点），那样是否完全没必要用分光系统？一些猜想而已。
不知道我的理解是否正确？有那些不对的希望指出来~~谢谢

关于吸光值是吸光度值=log（A/B),差点误导了。。。。谢！