荧光光度计 使用问题

我们在测沉积在玻璃片上的荧光物质时，当玻片与接收器成45度角度时，有激发光谱很强的反射干扰，会掩盖所需要的光.而将玻片旋转180度，接收器又只是接收透射出的发光光谱，光强度会有损失。

有时又会奇怪地从0出峰，再点击一次measure，所测荧光的波峰值一般都会降低，可重复姓受到影响。有木有人知道如何解决？

应助达人

楼主就此问题连续发了两次帖子，但是仍然阐述的很简单。
具体的样品是如何放置的？使用了什么附件？测试条件是什么？测试的谱图是何样子？仍然未见只字上传。
如果楼主真的需要探讨可以站短联系我。

固体样品架加上样品后，样品的前表面和入射光的夹角不是45度啊，是六十度。也就是说固体样品架相对入射光本身的夹角就是60度的。且在垂直方向上还有一定的仰角，所以反光应该没办法进入发射单色器的。

所以你说的干扰应该是一级锐利散射光。如果你觉得和你的荧光光谱叠加了，你换个激发波长就好了，比如激发波长减小25nm。