请帮忙分析XRD定量数据

应助达人

一会有空来看看......

谢谢老师了。

应助达人

你给的两个谱是一样的

大致fit一下, 生成的Cu3Ge貌似有两个晶胞参数, 所以用了两个相.

p.s. 注意Rietveld 定量主要是用来给粉晶定量的, 薄膜一般不定量, 定量结果也会受织构很大的影响.

谢谢老师了，辛苦了，还有两个问题请您帮忙解答

1.topas软件中用的str结构文件数据库是怎样获得的？

2.像我这种薄膜的情况该如何定量的确定出Ge的含量呢？xps可以吗？谢谢老师了。

iangie(iangie) 发表:你给的两个谱是一样的

大致fit一下, 生成的Cu3Ge貌似有两个晶胞参数, 所以用了两个相.

p.s. 注意Rietveld 定量主要是用来给粉晶定量的, 薄膜一般不定量, 定量结果也会受织构很大的影响.

还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧？

应助达人

str数据库原来是要买的"The TOPAS structure databases are optional add-on's to TOPAS, which have to be ordered separately."
后来TOPAS user meeting会免费发给参会的用户. 最近的一次11月在德国开~还有机会哦~你去参加一次就能拿到了~~


生长薄膜的织构决定了不同厚度层的成分不一样, 你这个XRD结果只是所检测层厚度内的平均物相含量.
XPS也是给出元素信息不是物相信息, 相比之下断面EDS更靠谱.

[div]原文由 moreniu(moreniu) 发表:还有topas计算出来的是不同物相的质量比吧？[/div]
yes