终于找到了一种去除温度对近红外光谱的影响的方法

介绍一下方法

你用的是什么公司的仪器呢？

是我们自己研发的谷物近红外光谱仪，具有实时监测样品温度的功能，现正在寻找产业化合作伙伴。

方法主导思想为：采用多元校正剔除与温度相关的特征信息，然后保留与温度无关的吸光度光谱。

从你的光谱图上看是不是做的透射光谱啊？
对漫反射固体样品你们也能去除温度的影响吗？
另外，你们建的模型也能去除对温度的影响吗？

对透射光谱完全是可以去除的。我们在常温下建立一个模型验证了在9~40度范围的内同一样品光谱，模型分析的结果非常稳定，根本不受温度的影响。
至于漫反射固体样品从理论上来将应该是没有问题，不过还需要实验进一步验证，目前我们公司所研发的仪器全是短波近红外透射的，漫反射的还没有实验条件。

请问是何种谷物的图谱？原样，还是磨粉以后的？透射的光程是多少？

能否详细介绍下你所采用的方法？是在仪器自身上下功夫还是在软件，模型上下功夫？最近正处理温度的问题，很是郁闷。

很感兴趣，不知有没有进一步资料！

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