测试过程寻峰对结果有没有影响？另外室温的影响到底有多大？（大家讨论下背景为什么会显著升高）

应该是雾化效率的事.明显的可以看到刚开始时标准的强度与测到最后时的强度差的很多.
建议在每测二十个样品之后以去离子水清洗三分钟,如果强度降得很厉害可以用1%HF的溶液清洗几十秒(要慎用).

如果在测试过程中寻峰定会对结果产生影响:会使谱线的X.00*(如Cu324.795)产生变化,从而使计数点的位置也发会变化而影响结果.

不过结果好象是有高有低的
As    Cd    Cr    Cu    Hg    Pb
107.573     1.249     12.089     112.940     12.026     19.427
219.288     0.844     3.807     26.113     27.773     25.004
Cu用的是一点法，感觉差异就太大了,Ｈg用的是平均值法，其它都是五点取最大值，单位均为ng/ml

从数据看出的问题：
Uv区:Hg.As波长小200nm是属于真空紫外区的.而这个区的结果也是呈上升趁势的.Pb的最灵敏线应为2203吧?也是属于紫外区的.

Vis区:Cd2283线较灵敏且处于ICP中Uv与Vis的分区段；Cu3247、Cr2677；此区段的结果呈下降的趋势.

怎么没人关注啊，两天休息我想了一下，看会不会是因为背景值的变化．
我看了一下，背景值最后做的和最前做的相差非常大，背景值是越做越高，其中Ｃu从２７４７０增到了１０３４１２．是什么原因引起这么大的变化呢？

弄明白了，还是恒温不够，老师说要恒温４小时以上，那天我来不及，恒温１．５个小时后就开始测了．

大家分析一下还有什么其它原因，经排除不是恒温不够的原因．

我看了一下，背景是持续升高的，Cu每做一个样就抬高５０００的样子，非常均匀．

JY的仪器比较稳定,当天寻过峰后应该不会偏移太大,有时侯一个星期都不用再寻峰的.相信也不是恒温不够的原因,我以前用JY的机子,即开即用都可以,恒温不好不太可能影响这么大.你看看背景在升高的同时峰高是否也在升高,就是说峰高掉背景是同步变化的?副高压的变化是会导致背景和峰高都发生变化的.
感觉你的机子也是老出问题啊!

是同步升高，就是比例不一样，然后一减就变低了，我也没老出问题啊，不过这次比较奇怪而已．我查看过以前的数据，没有这样往上升的．