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请教一个PFM测试薄膜电畴的问题

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 各位兄台，请教一个PFM测试薄膜电畴的问题

    我的实验过程：选择薄膜的一个微区，通过逐渐增大针尖与样品表面的contact force, 来观测其对区域内晶粒内部电畴变化的影响。

    最终分别得到了原始PFM图（包括形貌和畴图）和不同三个接触力下的PFM图。

    有图像看到，增加第一次接触力时，区域内的晶粒电畴颜色均变得更深，而再次增大力时，颜色又变得淡，最后一次增加力，衬度的颜色又变得更深。也就是说随着接触力的逐渐增加，电畴衬度颜色的变化规律呈现：浅—深—浅—深。

    请问一下，如何对这个其中的机理做出相应的解释。
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  • huwang251

    第1楼2011/12/07

    可否传个图片瞧瞧

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