比表面测试仪测定孔结构对样品粒度有何要求？

固体不是均匀的,因此采样方式很重要.较为均匀的取样就随便点,不均匀的还要分区采样,四分法缩样
问题的关键是你颗粒较小的比表面积和块状的比表面差别大吗?这不决定于分析方法,而是你样品本身的性质

平时我们接到样品时，都是些块状样品，按照规定我们是要将其磨碎再筛分的，可是有时忙起来就会随便取点颗粒较小的样品进行分析，也没有对磨碎过筛前后的样品得比表面做过对比，就是想知道测定比表面积，孔容，孔径，孔分布，这些指标对样品的颗粒大小是否有要求，是不是不论什么样品都要进行磨碎，过筛呢？只要取样均匀是不是块状或者球状也可以呢？

比表面积测定跟含量分析不同，数据建立在数学模型上的一个统计数据，所以经常不同型号的仪器测定的数据也不一样，同一个样品处理不同，数据也不同，个人觉得大块的和小块的整体吸附性能应该有所差异，但差异是不是在可接受的范围内，只有使用这个数据的人来判断。你如果觉得小颗粒和磨筛过后的测的数据差别不大，时间又很宝贵，也可以这么做。

我有一个样品，一个规程说过筛到20-30目，另外一个标准写的是0.85-1.18mm（应该是14-20目），至于我筛子是20-40目的，也一样用吧

举个例子，碳酸钙粉末，200目过筛和80目过筛，测试出来的比表面积还是有差异的。理论上来说，同一种物质，粒径越小，其比表面积是越大的。如果研磨前后都在微米级别的，只要是前处理做好了，我觉得研磨前后的样品比表面积相差不大。

他大块的是不会磨那么细的，有点像我们测的具有孔分布的固体材料，比表面积是孔径决定了的，研磨后的粒径理论上讲不会影响比表面积，但实际测量过程中可能比如静态的抽真空、动态的吸附效率等可能因形态不同会有点差异，但有的指标要求很宽泛，差异可忽略不计。