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X荧光检出铝合金Mg、Si元素有差别

X射线荧光光谱仪（XRF）

  • 大家好，我们的设备是岛津XRF-1800，检验AlSi10MgCu（原材料）时，Mg是0.32.Si是11.79，而我用光电直读时，Mg是0.35，Si是 10.10，请问这个为什么会有不同呢，我们也知道应该出哪个结果啊 （Mg：0.35-0.45，Si;9.0-11.0)
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    +关注 私聊

  • qcz9999

    第1楼2012/02/29

    两种方法之间会存在误差，误差较大时，是否考虑标准曲线，制样问题

0
    +关注 私聊

  • XRF_INFO

    第2楼2012/02/29

    应该考虑重新建立校准曲线，标样表面要处理好，并且平。

0
    +关注 私聊

  • 19栋

    第3楼2012/03/01

    建立校准曲线，能说的具体点么，我有点不是很明白

0
    +关注 私聊

  • alexright

    第4楼2012/03/05

    看标准样品。制样没有问题的话，X荧光应该好一些。

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