yingfangxun
第7楼2006/06/07
经过特别处理的样品,从理论上是可以达到1~2ppm的测量精度的。只是在实际应用上,一般的个人或工厂比较难完全满足条件。但是能量色散X荧光光谱仪的测量结果基本已经可以达到rohs的要求标准了。
任何人都知道误差是无法避免的,我们要做的就是把误差控制在允许范围以内。1、准备3—5个自己企业的需要进行检测的样口,到权威部门测量数据。
2、(测量仪器的稳定性)将各种有害元素居中的样品用您所购买的X荧光光度仪器进行测量,连续测量21次(即95%的置信度),这21次的结果波动误差范围基本上反映了正常使用时,仪器测量的误差范围;此误差范围小于我们要求的测量误差。
3、(测试仪器的分辨能力)用第二步骤测量时使用的仪器工作曲线,爱个对准备好的样品进行测量,测试结果的规律应该与已知的含量结果规律有较好的一致性(即较好的线性关系),刚说明仪器有较好的分辨能力。
您可以用以上方法检验您所要购买的仪器。在此,向大家推荐一款由华唯计量生产的ux-300型能量色散型X荧光光谱仪。如果有需要了解,请与yingfangxun@163.com索取资料。
busyren
第8楼2006/07/04
手持的有200-300的误差说法并不准确,我的经验是30%左右的误差,当然我用NITON的797,在手持里边应该是最好的了.如果其他仪器,可能更差,我们很多客户干脆都按照50%误差在算(安全第一,呵呵).比如Cd,检测数值设定为70-130,70以下,我们都认为合格,130以上不合格,中间算是灰色地带,需要做化学分析了.由于XRF不能区别Br\Cr的形态,一般如果总含量为700以下就认为合格了.当然如果超过1300的话也不能说不合格,因为不能确定Cr6+还是Cr3+,所以要做有害性的化学分析.
对于台式的机器,精度理论上能达到1PPM.只是理论上数值而已,所有的宣传资料样本上所说的精度,大都是不可信的,需要选择仪器的朋友可以通过实际做实验来看仪器的好坏.
一般有以下几个指标应该有用:1,探测器是关键,目前大多数都是SI PIN的,(当然还有一些液氮制冷,已经不多,选择电子制冷的);也有少数极少的用Si Li的,精度比SI PIN的高很多.Si Li的也根据晶体面积分为:50平方mm,30平方mm,15平方mm,10平方mm等几种,面积越大,精确度越高,晶体的厚度大部分都是3mm,但是也有偷工减料1mm的,建议不要选择.一般情况15平方mm的Si Li探测器的仪器,精度155eV左右,还是能达到的.目前有些鼓吹149eV的仪器基本都是假的.另外,好Si Li探测器价格在5万美金以上,所以整机8万美金左右,Si PIN的整机国外货50万以内,国内30万,区别不大.所以很多国内仪器号称155eV的都不可信,大部分为220eV或者260eV的.因为Si LI的探测器都要40万人民币了.
2.检测时间,指达到同一精度所需要的时间,各种仪器区别很大,有的2分钟能作到,有些可能6分钟才能作到,虽然现在大家都宣传60-180秒,其实不一定可信.检测时间和晶体的面积有关系
3.方法也很重要.