透射电镜(TEM)
洪星二锅头
第1楼2012/04/16
样品的标尺是多少简述一下你的样品、成分,另外不明白你所说的物理背景是什么
perpetualcat68
第2楼2012/04/16
HRSTEM 和Z,TDS 关联,考虑到高斯分布型的FEG-电子能量偏差,电磁的变化和背景,I(x)=(h+0.5k)+0.5k*erf(k1(x-l)),(如图,I(x)是水平扫描值) h:background;k:edge contrast;k1:blurring;l:edge position;这个模式对应了HRSTEM的物理背景. sobel, roberst 等边缘检测只去找inflection points, 忽略了I(x)的形成机制.
第3楼2012/04/17
看来是我的水平问题,没涉及这区域的研究,抱歉,等待牛人的简答。。。
alcestis
第4楼2012/04/17
不好意思,我就想问一下处理的图片是用什么去噪的?
第5楼2012/04/17
lowpass filter, 我倾向于multimask-filter,差不多.现在用deconvolution, stemcell 上免费可用, 效果很好.但对测量来讲还是避免用,尽量减少样品真实信息的流失.
第6楼2012/04/17
能说一下这张图片你的lowpass filter的具体参数吗
第7楼2012/04/18
DM script, 比较histogram可以看出变化.再上一个HRSTEM上测厚度的, 对erf模式进行了改进,避免了'cut-off'带来的微小偏差.抛砖引玉, 等啊等...
第8楼2012/04/18
没做过需要这么精确测量边缘的。新上的图片是filter过的图片吧。这样拟合后测量的误差是什么?你的测量需要精确到什么程度啊?不filter的话通过erf拟合得到的测量值误差更小?怎么感觉不太可能。
第9楼2012/04/18
新图是没有去噪的,看下拟合图里蓝色的扫描值就很清楚了.图像去噪后会失真,如果对应的模式可以拟合就不必用filter了.测量精度是subpixel,这张图的pixelsize:0.0223x0.0223nm.filter通常只不过是让观察变得容易,当然也会误导. 如果依赖filter做测量,那实验条件都不用改善了.很想知道你做边缘检测的经验.有没有对标样进行过不去噪和去噪后测量结果的比较.
第10楼2012/04/18
恩。我没什么经验,只是因为要看cross-section的graphene monolayer,所以尝试过做一些filtering,看能不能使我的layer能更清楚地被分辨出来。其实我不是很清楚你的问题。你的意思是说在没去噪的图上做拟合太麻烦,可我看你前面那楼这样做拟合貌似也不是很费时啊?在我看来,从你的原始数据得到的精度已经是~0.2x0.2 A了,我怎么觉得任何filtering引入的artefacts会大于对误差的改善呢。
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