XPS及其它能谱仪
sydu
第1楼2012/07/03
我知道的深度分析方法有两种，是刻蚀和角分辨，这两种方法对粉末样品都不是很适合，x射线的束斑以及刻蚀束斑一般没法小到一个粉末颗粒的尺寸，也就是说分析得到的结果可能是多个颗粒的表面和不同深度的组合，分析出来的结果跟单纯的xps没什么两样。单纯粉末样品作profile的意义也就不大了，若样品可以制备成薄膜或者片状单晶或多晶的话，倒是可以考虑。
blackbeauty
第2楼2012/08/01
顶楼上，粉末做深度剖析的话可以考虑AES
yangyang7853
第3楼2013/06/02
粉末一般没有人给你做深度剖析的
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