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GC-MS中有关背景扣除的问题

气质联用(GCMS)

  • 仪器是安捷伦,5975(MS)-6890(GC),测试样品采用的选择性离子扫描,并做了2个空白样品,数据处理过程中,如何扣除空白样品?
    是不是采用软件中BSB进行扣除,还是用谱图相减扣除(此项操作在软件上无法实现,总提示要定义X轴)?
    再有如果采用BSB扣除背景,这个背景又是什么呢?在选择离子扫描方法下能这样做吗(BSB)?不能的话,又是在什么情况下采用BSB方法呢?

    望各位专家给予帮助,谢谢!
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  • symmacros

    第1楼2012/08/25

    应助达人

    一般SIM不用扣背景。

    样品空白扣除的效果不是很好,会因为信号基线等的不稳定而造成误差。

    SIM不用BSB。

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  • pinquion

    第2楼2012/08/25

    是不是全扫瞄时侯才用?如果sim用bsb对结果有多大影响?,

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  • symmacros

    第3楼2012/08/25

    应助达人

    一般是全扫描的时候用来扣掉一般干扰的一些离子,是图谱更干净好看。SIM时候各个段所选择的扫描离子不同,无法对整个扫描范围做BSB扣除,也无意义。

    pinquion(pinquion) 发表:是不是全扫瞄时侯才用?如果sim用bsb对结果有多大影响?,

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  • pinquion

    第4楼2012/08/26

    那就是说,没有什么影响?

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  • symmacros

    第5楼2012/08/26

    应助达人

    也不能说完全无影响,是SIM无法确准进行BSB扣除。如果基质有较大的干扰离子,还是比较麻烦的,如果是定量离子就有可能会造成结果不准。不过我从来不会在SIM进行扣除的,如果不能用,就想其它办法,例如净化样品、尝试更好的分离条件等。因为我在家里,手头无SIM例子的图谱,回头再详细的看看。

    pinquion(pinquion) 发表:那就是说,没有什么影响?

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  • guocui0924

    第6楼2013/11/01

    一般说,扣除背景,这个背景到底是指什么背景呢?我自己试了下,一张图给连续点了三次的背景扣除BSB,整个峰型都完全变形了。

    symmacros(jimzhu) 发表:一般是全扫描的时候用来扣掉一般干扰的一些离子,是图谱更干净好看。SIM时候各个段所选择的扫描离子不同,无法对整个扫描范围做BSB扣除,也无意义。

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  • erge

    第7楼2013/11/01

    扣背景扣除的是空白的一些峰(背景)吧?

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  • symmacros

    第8楼2013/11/01

    应助达人

    要选择合适的点。

    guocui0924(guocui0924) 发表:一般说,扣除背景,这个背景到底是指什么背景呢?我自己试了下,一张图给连续点了三次的背景扣除BSB,整个峰型都完全变形了。

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