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Si 强度突然下降的原因

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 请教各位前辈,荧光仪Si 强度突然下降的原因?荧光仪在测定样品时Si强度值下降很多,在做完探测器校正和漂移校正发现monitors K中Si强度从17.875下降到14.908,请问这是什么原因?在做PHD检查时,用的是生产样,发现Si有俩个峰值,同一个样第二次在检查时峰值正常,请问是什么原因?
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  • wvenus200

    第1楼2012/09/21

    补充:荧光仪型号是帕纳科VENUS 200,就硅测定值异常,其它测定值正常。

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  • sonne86400

    第2楼2012/09/21

    这个直接联络厂家应用啊

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  • wvenus200

    第3楼2012/09/23

    应用工程师说可能是样品有掉到光管上,还有就是探测器被污染要找维修工程师处理;维修工程师认为不是这个问题,要再看看。

    sonne86400(sonne86400) 发表:这个直接联络厂家应用啊

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  • sonne86400

    第4楼2012/09/23

    要是样品掉到光管里你那仪器直接坏掉了 直接换光管 光管最上面有层铍窗口很金贵 要是掉光管里面 铍窗直接烂掉 你也不可能有数据了 探测器被污染说法可能存在 但是探测器最前面也是个铍窗口 也金贵 按照厂家说法 光管探测器你要换一个了哦

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  • wvenus200

    第5楼2012/09/23

    我是认为,如果是光管上有样品,那么不是只影响Si一个元素,如果是探测器被污染,Si,Al,Ca是同一个探测器,那只影响Si好像也说不过去,求解!

    sonne86400(sonne86400) 发表:要是样品掉到光管里你那仪器直接坏掉了 直接换光管 光管最上面有层铍窗口很金贵 要是掉光管里面 铍窗直接烂掉 你也不可能有数据了 探测器被污染说法可能存在 但是探测器最前面也是个铍窗口 也金贵 按照厂家说法 光管探测器你要换一个了哦

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  • 里海

    第6楼2012/09/23

    看你这种情况应该是探测器有问题,先做个重复性实验,一个样品测几次,看看结果如何,要是没问题应该没大碍

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