电镜和XRD的区别

分享的精神值得敬佩，谢谢

不过，对于电镜和XRD的比较中，当晶粒尺寸大于100nm时，好像就不能用XRD测量尺寸了，宽化效应很明显，也不能直接用谢乐公式计算了，对于SEM来言，直接将颗粒撒在导电胶上，统计的尺寸还是很有说服力的

就目前市场上的衍射仪而言，1D-XRD的制样前提是晶粒足够细小（1-2um）且随机分布无择优取向，若晶粒较大，宽化效应会很明显，因而，制样要求就比较苛刻，需要一定的技巧；2D-XRD的前提是X射线要穿透样品，样品处于随机振动状态，因而，样品的厚度必须控制（1-2mm），但颗粒度及取向无特别要求，而且分析效果比较理想，因而，较为适合大颗粒、样品量少、有择优取向的样品，推荐使用2D-XRD。

此外，透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性，观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒，影响了测量准确性。所以，透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。

因而，X射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。对某种特定条件选择合适的方法，需要知道待测粒子的基本情况，了解粒子的用途和考虑所选方法的局限性。

最主要的差别还是在于X射线衍射得到的数据里面缺乏晶体波函数的相位部分，强度信息保留了下来，而电镜特别是HRTEM，波函数的强度、相位信息均保留，虽然受到一定干扰，担仍能反应晶体结构信息。X射线衍射的话，还需进一步处理以及间接计算。

谢谢.学习,未懂.

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作者可能需要注意的是：XRD的宽化效应是与晶粒尺寸相关，而SEM观察的是颗粒尺寸，应该有所不同。