2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座之四、之五
活动时间：2013年6月25日 、7月9日
现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。
为让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用，帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧，布鲁克特安排了原子力显微镜测量技术系列讲座，欢迎大家积极参与学习及交流。
【讲座安排】
1、第四讲-利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征|
时间：2013年6月25日 10:00
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2、第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展
时间：2013年7月9日 10:00
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【注意事项】
1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。
2、参加及审核人数限制：限制报名人数为120人，审核人数100人。
3、参与互动：每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星，奖励一个价值150元的耳机。
4、环境配置：只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。
5、提问时间：现在就可以在此帖提问啦
6、会议进入：会议室将在会议正式开始前30分钟打开，审核通过的用户可以进入会议室
7、特别说明：报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程)，请注意查收，并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过，请填写完整而正确的信息哦~
注意：由于参会名额有限，如您通过审核，请您珍惜宝贵的学习交流机会，按时参加会议。如您临时有事无法参会，请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。
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