Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

首先普及一下扫描探针显微镜的知识：

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是20世纪80年代初问世的扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）的一种。1986年，Dr.Binning 因发明扫描探针显微镜而获得诺贝尔物理奖。这种显微镜可以直接观察物质的分子和原子，为进一步探索微观世界提供了理想的工具，对于材料的研制开发，生物分子的表征起到了巨大的作用。

进入正题

Flatten

原理：对每条扫描线上没有被MASK的数据根据最小二乘法计算出一个拟合的多项式，然后把这条扫描线上所有的数据点减去此多项式。

用途：用来去除由于扫描管垂直方向的漂移，扫描过程中出现的跳线，扫描管的弧线运动等原因而引起的扫描线之间产生的垂直方向错位。

上面只有文字的描叙有点抽象了那让我们来看看它神奇的效果吧，有图有真相

（Flatten前的图片）

（Flatten前要框住亮点）

（Flatten后）

在来看看它3D图的变化

Flatten前

Flatten后

很明显Flatten前后的差别，当然有人会问你这样Flatten之后是不是图像变得不真实了呢？

那么我们在Flatten时应该注意这些事项：

在做flatten时，一定要把图象中不在同一平面内的特征stopband框起来，然后再进行处理，否则在具有高特征区域的水平线上会处理低的区域；而在具有低特征区域的水平线上会出现高的区域。

对图像分析产生的影响：

由于flatten去除了扫描线与扫描线之间的垂直方向的offset，它同时也就修改了图象Y方向的信息，所以在分析图象时要注意到这点，比如

1. 在做roughness分析时，flatten对结果的影响会很大。

2. 在测量台阶高度时，如果扫描方向与台阶垂直，flatten没有什么影响；但是如果扫描方向与台阶平行，用flatten处理图象则会产生很大的影响。

以上就是我对Flatten的神奇效果的理解