【求助】新人求教AFM测量Polymer溶胀的问题

270400

2010/05/30

私聊

扫描探针显微镜SPM/AFM

大家好，我是新手，现在在做Polymer的溶胀分析，但是遇到了如下的问题
1 做Polymer溶胀用哪种测量模式好呢？Tapping还是Contact呢？
2 溶胀，听起来简单做起来还是挺变态的，一干一湿2次测量，为了让试验具有可比性，我需要选择同一根探针，请问这个时候什么样的探针比较好呢？我选择的是比较软的探针 0.48N|m的或者0.06N|m的force const.
3 溶胀之后的Polymer应该是相当的软了吧，如何才能保证我的探针不是扎到Polymer里面了呢？
4 使用TappingMode的话每次测量参数都是不同的，这样会不会影响横向比较呢？如果使用ContactMode是不是我对所有的样品都采用同样的力就保证了可比性呢？
5 如果使用ContactMode的话这个力设定为多大为最合适呢？是否要先做力距离曲线呢？然后根据曲线选择出合适的力呢？请问如果做这个曲线呢？
6 我对溶胀后的Polymer使用不同的模式进行测量，奇怪的是为什么Tapping Mode测量出来的微结构的高度比Contac的要低呢？
7 还有一个关于Flatten的问题，我测量的是一个台阶结构，测量出来的图片是不平的，需要Flatten，但是每张图片我选择不同的Flatten的区域的出来的结果会有所差异，请问如果能给这个Flatten一个标准化呢？其实到现在我也不是很理解Flatten的含义，我的英语不是很好，说明书也看的不是很懂，所以在Flatten的时候都是跟着感觉走的*高阶低阶都水平了我就认为合格了，但是具体意义还是不是很明白），感觉这样做太不科学了哦。

我是新手，刚刚接触AFM就遇到这个问题，十分头大，我的机器是Veeco的 IIIa型，谢谢大家指教~

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第1楼2010/06/03

270400(270400) 发表:大家好，我是新手，现在在做Polymer的溶胀分析，但是遇到了如下的问题
1 做Polymer溶胀用哪种测量模式好呢？Tapping还是Contact呢？
Polymer一般都用Tapping模式测试。

2 溶胀，听起来简单做起来还是挺变态的，一干一湿2次测量，为了让试验具有可比性，我需要选择同一根探针，请问这个时候什么样的探针比较好呢？我选择的是比较软的探针 0.48N|m的或者0.06N|m的force const.
0.48N|m的或者0.06N|m 的都是接触模式的针尖。可选用相位成像模式用的Tapping针尖，或者一般的Tapping针尖。
需要注意的是，潮湿表面测量时，由于粘滞力较大，可能成像会有问题，建议用液相AFM测量溶胀后的样品。

3 溶胀之后的Polymer应该是相当的软了吧，如何才能保证我的探针不是扎到Polymer里面了呢？
Tapping模式的作用力很小的。通过振幅和Setpoint的控制，是可以保证的。
4 使用TappingMode的话每次测量参数都是不同的，这样会不会影响横向比较呢？如果使用ContactMode是不是我对所有的样品都采用同样的力就保证了可比性呢？
只要成像稳定，参数的不同，并不会对测量结果产生多大的影响。

5 如果使用ContactMode的话这个力设定为多大为最合适呢？是否要先做力距离曲线呢？然后根据曲线选择出合适的力呢？请问如果做这个曲线呢？
尽量使用Tapping模式来做吧。

6 我对溶胀后的Polymer使用不同的模式进行测量，奇怪的是为什么Tapping Mode测量出来的微结构的高度比Contac的要低呢？
可能没有稳定成像。溶胀后的样品表面有较厚的水膜，针尖与样品之间存在较大的粘滞力，会影响测量。

7 还有一个关于Flatten的问题，我测量的是一个台阶结构，测量出来的图片是不平的，需要Flatten，但是每张图片我选择不同的Flatten的区域的出来的结果会有所差异，请问如果能给这个Flatten一个标准化呢？其实到现在我也不是很理解Flatten的含义，我的英语不是很好，说明书也看的不是很懂，所以在Flatten的时候都是跟着感觉走的*高阶低阶都水平了我就认为合格了，但是具体意义还是不是很明白），感觉这样做太不科学了哦。
Flatten即平整化，样品平面原本是平整的，但是由于扫描时存在各种负面效应，会使扫描出来的结果显得不平整，平整化即通过曲线拟合的方法将不平整的扫描结果平整化时，较高的Platten阶数能获得较好的平整化结果。以将样品平面尽量拉平为标准，而不要在意Flatten的阶数。

我是新手，刚刚接触AFM就遇到这个问题，十分头大，我的机器是Veeco的 IIIa型，谢谢大家指教~