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求ims 7f或者4f亦可的探测极限

同位素及其它无机质谱

  • RT,近期想写个原创文章,缺少cameca 系列高分辨SIMS的探测极限。请版友帮忙找找这类东西的出处、链接。

    如同时能有TXRF、NAA的探测极限数据更好。

    先谢谢各位了
  • 该帖子已被版主-无机麦地加4积分,加2经验;加分理由:讨论
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  • 无机麦地

    第1楼2013/07/09

    SIMS的探测极限也没有特别高:http://www.cameca.com/instruments-for-research/sims.aspx

    SIMS做微区分析应该更擅长

    NNA现在基本上没几个人做了,就只有少数几个地方有反应堆,并且一年也开不 了几次。

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  • 拳力向前

    第2楼2015/08/17

    布鲁克 TXRF S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线,通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光,以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片,并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近,荧光产额非常高,而空气吸收非常低。
    全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是,在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件,用全反射光束激发样品荧光,并减少样品基体的吸收和散射。其优点是: 显著增强荧光产额,极大地降低背景噪音,从而拥有更高的灵敏度,可以进行微量元素分析
    主要用途:用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析,以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al~U(除惰性气体及少部分元素外)的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。

    更多资料可联系我,18221083873

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