XRF融片用上表面测定

你先比较一下融片的上下面的平整度再想想有没有意义。

我想用上表面测定，就是因为我单位的铂金坩埚底部有少量的腐蚀（自己磨平抛光了下），怕不平整有影响，如果上表面能测定准确，那以后都用上表面多好，省的担心。

你不妨试试看呢 还有你的样品是否均质也很重要 但是结果差了这么多很奇怪哦 不知道是否有别的元素干扰

上表面不平。我想应该主要是这个造成的。

有点腐蚀不要紧，X射线是有穿透性的，能把熔片里面的物质也激发出来，元素越重越能把深层的激发出来，这样表面的影响就相对小了。例如铁镍等金属元素，熔片表面就算很差，影响也几乎可以忽略。这个我是做过测试的。轻元素如镁铝硅可能会有些影响，不过也很小，而且这些元素本来允许误差范围就大。

我有一个猜想，未必正确啊，我感觉浓度梯度在形成融片的过程中其实是难以避免的，考虑到炼钢过程中，熔渣都浮在上面，是不是这个成因类似？
BTW，熔渣成分一般为硅铝酸盐。

炉渣无法跟铁水形成熔体，就像碳酸钙无法溶入水中而形成了沉淀（炉渣比铁水轻所以是浮起的），物相还是多相的。而硼酸盐与氧化物熔融发生化学反应形成的硼酸盐化合物，是单相物质。类似食盐溶于水，形成均匀的溶液（虽然反应原理不同，但现象类似）。

重复了……

我想这个问题主要是怕上表面受到污染，没有其他影响应该，融片本身的成分非常均匀，不会因为测量哪个面而产生变化的。至于说为啥结果差了，我想应该是你的样品平整度不一样，距离光管的距离变化造成的，但是结果应该呈比例的，高含量差得多，低含量差的少