请教EDX的检测下限怎么求

怎么都没人回复呢？是不是大家的EDX都不需要制定检测下限啊。

检测下限是仪器的3倍的背景的强度。

那这个背景强度是怎么计算的呢？在做工作曲线时有多个背景强度，是不是求所有背景强度的平均值啊？谢谢指教！

好像荧光的检测下限不同于平常所说的吧？
好像是针对材质、元素均有不同的检测下限的吧？
具体也不是很清楚，还请高人指教！

不错！使用在测试不同的材料时，所要测试的有害物质（Pb、Cd等）的检出下限都是不一样的，这个还和你仪器的性能有关。

我用的是PVC标准片，我的检测下限计算方式是：
LLD.=背景强度的标准偏差*灵敏度*3
其中背景强度是做标准曲线时都会给出的背景强度，灵敏度是取的标准曲线率的倒数。
请指教我的这种计算方法是不是正确的，谢谢

我认为:拿标样值为零PPM的标准化样品去测试一次,所得的一个负值,应该即为检测试下限.

你要搞清楚....
你的检测出限是仪器本身的检出限呢还是针对不同材料的方法检出限..
一般来说...
方法检出限=仪器检出限*(5-10)

而仪器的检出限一般是仪器噪音信号强度的三倍....
你购买仪器的时候,仪器检出限厂商会告诉你的