关于XRF 灯丝本底

XRF扫描仪？
原先没有W的信号么？
我感觉应该也有才对吧？
是不是通过滤光片来消除影响？
求大神解答！

应助达人

你所说的电压是指加载靶材和灯丝之间的高压，这个高压会影响寿命，但并不是决定性的因素。

决定性的因素其实是你说的电流，这个电流是指灯丝发出来的轰击靶材的电子束流，要产生55mA这么大的电子束流，灯丝中通过的电流是以A(安倍)为单位的，高达几安培或者十几安培的电流才能产生你所要的束流——这也是WDXRF光管要通循环水冷却的原因所在——你还把束流拉到最大值，你说对寿命影响哪个大？

另外，我不太明白，你用的Mo靶材，怎么是看到了W本底信号？W来自哪里？你认为是W灯丝蒸发出来的，还是Mo靶材中含有W？

大功率光管的寿命一般都能5年以上的，如果你测量的元素不是轻元素，建议设定高电压低电流，这样有利于延长光管寿命

操作最好请帕纳科专业工程师来指导下 你一直采用这样电压电流在测试感觉好奇怪 基体不同 在这些不该的情况下 测出来的数据还好吗

Mo靶的散射线对W的Lα有点影响，截个图看看最好。

谢谢各位的解答。

我们是瑞典COX公司的ITRAX 系列XRF芯体扫描仪。

W本底是W灯丝蒸发后附着在Mo阳极上的，灯管在500小时前，100s扫描时间看不到W的峰值，现在1000小时了，W背景从2000-4000—8000到左右了，我觉得速度有点太快了，难道是跟用到最大电流有关系吗？

咨询过COX的工程师，对方说只能在30kV下工作，太高的电压会对低能量段产生干扰，不建议使用。说55mA即使对寿命有影响，影响也非常小。

对方的解释：

Use always 30kV for XRF.

If you only get OCR 30000 at 30kV 55mA will give a better result than
35kV and higher.

The effect on the lif time very small if any.

Background 1-2.5keV is the reason.

关于W本底：

When the filament is heated there will also be some free W-ions around it. The positive W-ions will also be accelerated and can hit the anode, so after some time there will be at thin layer of W on the anode surface. This W-layer will be thicker and thicker when the tube is getting older. This will give stronger and stronger W-lines in the spectra.

刚接触XRF不久，很多东西不懂。
今天查看了一下机器，用的光管是XRD的,帕纳科的PW2275/20，3000W，我们是XRF仪器，为什么用XRD的光管呢？