如何对ARC/SPARK-OES,GD-OES及ICP-OES光源的稳定性进行评定？

如果在其他条件稳定的情况下，分析同一个均匀性很好的标准样品，结果的重复性可以代表吗？

大家能想到的简单的方法就是找一块均匀性非常好的样品，比如标准化样品RN19，间隔固定时间，保证仪器状态正常后，连续激发11次，记录其绝对强度（而不是相对强度），通过绝对强度的变化来考察光源的稳定性

在国外的文献上看到过另外一种方法，通过“fixation pairs”来监控
也就是选择两条谱线，其强度比会随着光源能量的改变而产生很大的变化，通常选择基体元素的一条原子线和另一条离子线，比如Fe 360.8nm和Fe 273.0nm
这种方法貌似更专业些，但在商品化的直读光谱仪中，我还没见过哪个厂家采用这样的方法来监控光源的稳定性。

你说的是ICP吧！

那个资料上讲的是火花直读光谱仪
不过我个人觉得这种方法更适合用于CCD检测器的直读光谱仪，毕竟额外增加一个PMT用于监控，得不偿失啊
当然，这种方法应该也是可以应用于ICP的

你有机会试试看！这种方法在CCD、CID和baird的仪器上就好实现了。主要用光强实验！！别用含量实验！应当带内标好。真实。我还没有深入理解。老头

目前我也不具备做这个实验的条件啊，要是能有台CCD仪器的话，做这个实验就方便多了

你增加一个通道不会非常困难吧

要是有BAIRD的仪器就好了。增加一个通道，恒温、抽真空、做曲线也就一多小时。怀念呀！老头

应助达人

老大很怀旧啊！