【FAQ】低真空-能谱分析

那要是样品中本来就有铝或铜，就不能做啦!你用的是什么能谱仪和电镜？怎么会在低真空下工作呢？

当然不得已才会在低真空做，我做的是光纤断口。可以用导电样品在高真空和低真空下能谱做比较，就会出现低真空下异常元素干扰。

我也用低真空做过能谱分析，当时心里还在奇怪，明明没有铜的怎么会出现铜元素。但是你能告诉铜是怎么被激发的吗？另外用低真空做能谱不好，主要是有少量空气会在探头上积水或者冰，影响分辨率。

我想问一下，杜瓦瓶中结冰了会影响能谱分析吗？结冰后应该怎么把他清理掉呢？

warm-up就可以了，下次使用时用coolingdown

请问杜瓦瓶内部真空下降如何解决？
有那里可以进行抽真空处理？？

请和陈先生联系，它是能谱专家。电话：13701115274。

我用的是日立的s-3000n+Horiba Emax-energy﹐在低真空狀態下進行樣品元素分析的時候也發生將樣品台上的元素打出來﹐適當調高真空度﹐該種狀況可以大大的減少。理論上電子束只能穿透<10nm的薄層﹐無法穿透樣品層而直接打到樣品台上造成其元素激發。
低真空這種現象發生的原因可能是二次電子散射造成detector收集到電子束打到樣品台上的二次電子造成的。
高真空這種現象也可能發生﹐其原因可能是電子束打在樣品上瞬間溫度抬高﹐樣品如果不耐高溫有可能就被擊穿﹐造成電子束打在樣品台上。
上述兩種狀況均有可能產生不希望出現的元素被探測到。
不知各位看法如何??

是啊，请赐教哦！