【序号】：1 【作者】：K. Suenaga, M. Tencé1, C. Mory, C. Colliex, H. Kato, T. Okazaki, H. Shinohara, K. Hirahara, S. Bandow, S. Iijima 【题名】：Element-Selective Single Atom Imaging 【期刊、年、卷、期、起止页码】：Science ，2000，Vol. 290 no. 5500 pp. 2280-2282 【全文链接】：http://www.sciencemag.org/content/290/5500/2280 【序号】：2 【作者】：Watanabe, M and Williams, DB 【题名】：Frontiers of X-ray Analysis in Analytical Electron Microscopy: Toward Atomic-Scale Resolution and Single-Atom Sensitivity 【期刊、年、卷、期、起止页码】：Microscopy and Microanalysis 12，515-526，2006 【全文链接】： 【序号】：3 【作者】：Parsons, JR, Johnson, HM, Hoelke, CW and Hosbons, RR 【题名】：Imaging of Uranium Atoms with the Electron Microscope by Phase Contrast 【期刊、年、卷、期、起止页码】：Phil. Mag. 29, 1359-1368，1973 【全文链接】： 【序号】：4 【作者】：Iijima,S 【题名】：Observation of single and clusters of atoms 【期刊、年、卷、期、起止页码】：Optik, vol 48, 193, 1977 【全文链接】：
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