AFM中假相的判断-修饰过的SiO2颗粒

[quote]原文由 jeasy 发表:用的是Veeco的AFM
有一定仪器工作经验的人对于一般的断针、双针尖、多针尖的判断都没有问题，但有时候不同性质的样品（如软硬不同，表面粘附力不同）对形貌成相影响也很大，而且通过gain值和setpoint调节也不能增加其分辨率，扫不出样品的真实形貌，这样往往不好判断，或是不好解释形貌中一些现象
这是一张修饰过的SiO2颗粒的形貌图，请高手评析------
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要评析什么？

感觉这图片还是可以的，最好在借助sem看一看就好了！ 单是一种仪器有些误差避免不掉的

对不起各位，没有说清楚
这是一张SiO2颗粒的形貌图，可是颗粒顶端或高处的一些特征却出现坑状形貌，我自己感觉不太对，也不太清楚什么原因造成，所以请教各位高手评析，以便提高操作水平
谢谢