【网络讲座】快速，直观的晶体结构测定 III: 玩转数据还原和校正（2016-10-14 14:00）

网络讲堂

2016/08/31

私聊

X射线衍射仪（XRD）

　　讲座名称：快速，直观的晶体结构测定 III: 玩转数据还原和校正
　　主讲老师：张振义博士
　　Bruker AXS SCD单晶应用科学家，负责中国区的小分子晶体学和蛋白质晶体学的技术支持工作。在晶体学领域具有10年的研究经历，涵盖蛋白质晶体学，蛋白质和药物小分子复合物以及小分子晶体结构的研究。
　　主要内容：
　　数据收集完成之后，我们需要对原始数据进行一系列的还原和校正才能获得我们所需要的强度数据。只有恰当的数据还原才能够获得精确的，用于结构解析和精修的衍射数据。因而这一步通常是最关键，但也是经常容易出错的一步。很多情况下，R_int值过高，完整度不足的情况都是由于数据还原过程中的参数不当造成的。因而选择合适的参数，并且了解数据还原过程中一些指标和参数代表的意义，不仅能够帮助我们获得质量更高的数据，还能够帮助我们分析数据中存在的问题，从而避免无效的重复劳动。
本次讲座将为您讲解晶体数据还原和校正的一些关键参数和指标的概念，如何对弱衍射数据更好的还原，如何进行精确的multi-scan校正和数字吸收校正，如何分析完整度不足的问题。期待与您相会。

举行时间：2016-10-14 14:00　　

　　报名链接：
　　http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/2152

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