【求助】怎么根据ＸＲＤ图谱算晶体的晶格常数

这个要用仪器带的分析软件可以计算，别的软件我不知道行不行，Highscore plus是可以的，不过要加标样的

jade都可以处理啊

谢谢大家了．

好像jade下不到 啊

晶面间距d 与θ角存在关系的，用布拉格公式可以算吧？这是我个人的看法，不一定对？

偏离了这么大的角度，就是用软件处理也会有较大的偏差。建议用标样校正后，重新测试。

加内标（如Si粉或KCl）校正角度，采用严格单色化的CuKa1辐射收集图谱，那样才能计算出精确的晶格参数，一般的那种混合的CuKa辐射得出的图谱算的晶格参数是不准的

如果不用软件，你可以在粉末样品中加入少量衍射本领高的物质，如Si粉，精确地测量与某个硅峰较接近的一个样品峰，计算出两个峰的衍射角，再查一下PDF卡片上硅峰的正确衍射角，加上测量值与标准值之差，就得到精确的无仪器误差的衍射峰，再按晶体学计算公式就可以计算出来点阵常数了。如果非立方结构就麻烦多了。基本上无法用这种方法来计算。而且，这种计算还是含有误差的，因为只有当衍射角等于90时才无系统误差。
如果用软件，如JADE，则要用完全相同的实验条件来测量一个纯硅样和样品的衍射谱全谱，按软件的方法去掉仪器误差再用全谱拟合的办法来得到精修的结果。
后一种方法可以分别计算多相样品中各不同的相的晶胞参数。由于测量的是全谱，对复杂结构的相也可以计算。但精度明显不如单相的结果。

这种办法还没用过可以试试