【网络讲座】：如何利用背散射电子收集最多的信息
【讲座时间】：2016-12-13 14:00
【主讲人】：蔡慧，卡尔蔡司显微镜事业部显微镜部亚太实验室主任 2004年毕业于南洋理工大学，获工学学士学位。此后，加入星科金朋公司，任产品测试工程师。2007-2010年间，加入南洋理工大学，研究微电子器件的失效分析，主要专注于使用扫描电子显微镜、聚焦离子束显微镜以及透射电子显微镜对材料的表征。同时，完成了南洋理工大学的研究生学习，主要研究纳米互联技术。2010年加入蔡司显微镜事业部。2012年，提升为应用经理，负责亚太地区的电镜支持。现在，他是显微镜部亚太实验室主任，负责管理亚太地区显微镜部的实验室。
【会议简介】
通过使用特定能量的电子束轰击样品表面，搜集产生的背散射电子和二次电子，这是扫描电子显微镜最重要的信号来源。
背散射电子来源于入射电子束与样品表面相互作用时，弹性散射过程所产生的高能电子。其有不同的种类，如经典的卢瑟福背散射电子、通道效应背散射电子以及低能损背散射电子。借助于蔡司专利的双子座镜筒技术，我们能够区分不同种类的背散射电子，从样品中获取最大量的信息。
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1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。
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