X射线衍射法检测粉尘中的结晶型二氧化硅

不错的方法分享，能否详细内容，如具体的标准曲线、谱图、质控信息等

极其好奇具体做法！

应助达人

估计和石棉的定量检测方法差不多，你可以参看GB23263-2009，这个方法是抄袭了JIS的标准。等我回头找找游离硅的测试标准来看看。
石棉的做法是将样品灰化，通常450℃左右1-2小时，然后该烧的烧掉了，再用甲酸洗，超声震荡，然后抽滤，石棉啊就留在滤网上了。把这个滤网放到XRD上去测试。
不过问题在于，这个时候得到的样品并非常规XRD测试时的无限厚，所以需要进行修正处理，否则得不到线性的检量线。前述GB23263标准附录中有所谓的基底吸收修正法介绍，你可以看看。

相关资料可以参阅NIOSH 7500

应助达人

所谓的零背景台实际上就是沿着Si的高指数晶面切下来，这里用不着，GB23263测试石棉时用的是Zn板，把滤网放在Zn板上测试。空白的滤网测试得到的Zn衍射峰（约43°）强度大，有了石棉附着在滤网上，对Zn的强度有吸收，自然Zn衍射峰的强度会变小，根据一定的公式，根据我的理解，这个公式就是Lambert-Beer定律，就可以折算石棉的厚度。
他这里测试游离硅，文章中提到了银膜，不知道是利用这个Ag的衍射信号修正还是也是在在下方放个Zn板，这个就不清楚了，但是道理应该和石棉是一样的。等我有空的时候找那个NIOSH7500来看看。

感谢大家对于本文的探讨，如需进一步的信息需求，敬请留言告知。

应助达人

我去。。。这能算原创？ 早就有的方法了。。。

原创就是新方法吗？对于方法的实践后的评判应该也是有价值的吧，减少试错成本。