有谁知道STEM与能谱点扫、线扫、免扫的区别啊

TEM的放大倍数要比SEM的高,当然两者的成像原理也是不同的，SEM是电子束激发出表面次级电子，而TEM则是穿透试样，所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般能放大几百万倍，而SEM只有几万倍。SEM通常看材料的缺口断面，TEM则可以观看材料的内部结构和形貌。
线扫描，用来表示某类元素的变化趋势，一般在相界面或过渡区进行线扫描，主要了解一条线上各个点的元素种类和含量；面扫描就是整个面的元素分布，可以用来估计合金组成或某些元素的富集区，主要了解元素的区域分布；线扫和面扫就是元素种类和含量的一维和二维显示，只能定性的分析元素的分布情况，点扫比线扫和面扫更准确，可基本定量分析元素。
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如果你能理解扫描电镜照片和对应的能谱是什么区别，那你就能明白你问题了！

谢谢啊，你看我理解的对不对，主要针对透射电镜，能谱(EDS)分为TEM模式、STEM模式下的，即TEM-EDS、STEM-EDS，
STEM-EDS又可以进行点扫（Point scan）、线扫（Line scan）、面扫(mapping scan )，我这概念的划分对吗？